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 国外标准 （0）
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IEC 63364-1:2022 EN-FR Semiconductor devices - Semiconductor devices for IoT system - Part 1: Test method of sound variation detection 现行 发布日期 :  2022-12-14 实施日期 : 

   电子版：666元 / 折扣价： 600 元

IEC TR 63357:2022 EN Semiconductor devices - Standardization roadmap of fault test method for automotive vehicles 现行 发布日期 :  2022-10-11 实施日期 : 

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IEC 63373:2022 EN-FR Dynamic on-resistance test method guidelines for GaN HEMT based power conversion devices 现行 发布日期 :  2022-02-10 实施日期 : 

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IEC 60747-5-15:2022 EN Semiconductor devices - Part 5-15: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the flat-band voltage based on the electroreflectance spectroscopy 现行 发布日期 :  2022-01-07 实施日期 : 

   电子版：666元 / 折扣价： 600 元

IEC 62047-40:2021 EN Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 40:Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold 现行 发布日期 :  2021-09-03 实施日期 : 

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IEC 62047-38:2021 EN Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 38: Test method for adhesion strength of metal powder paste in MEMS interconnection 现行 发布日期 :  2021-06-23 实施日期 : 

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IEC 60747-5-13:2021 EN Semiconductor devices - Part 5-13: Optoelectronic devices - Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages 现行 发布日期 :  2021-06-15 实施日期 : 

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IEC TS 60747-19-2:2021 EN Semiconductor devices - Part 19-2: Smart sensors - Indication of specifications of sensors and power supplies to drive smart sensors for low power operation 现行 发布日期 :  2021-05-21 实施日期 : 

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IEC 62830-5:2021 EN-FR Semiconductor devices - Semiconductor devices for energy harvesting and generation - Part 5: Test method for measuring generated power from flexible thermoelectric devices 现行 发布日期 :  2021-01-21 实施日期 : 

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IEC 60747-16-5:2013/AMD1:2020 EN Amendment 1 - Semiconductor devices - Part 16-5: Microwave integrated circuits - Oscillators 现行 发布日期 :  2020-07-14 实施日期 : 

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