17704692435
有电子文本×
购买标准后,可去我的标准下载或阅读
GB/T 32278-2025 碳化硅单晶片厚度和平整度测试方法 即将实施 发布日期 :  1970-01-01 实施日期 :  2026-02-01

本文件描述了碳化硅单晶片的厚度和平整度测试方法,包括接触式和非接触式测试方法。
本文件适用于厚度为0.13 mm⁓1 mm,直径为50.8 mm、76.2 mm、100 mm、150 mm、200 mm的碳化硅单晶片厚度和平整度的测试。
本文件也适用于碳化硅外延片厚度和平整度的测试。

   电子版:29元 / 折扣价: 25  纸质版:暂无

GB/T 30868-2025 碳化硅单晶片微管密度测试方法 即将实施 发布日期 :  1970-01-01 实施日期 :  2026-02-01

本文件描述了碳化硅单晶片的微管密度的测试方法,包括化学腐蚀法和偏振光法。
本文件适用于碳化硅单晶片微管密度的测试。

   电子版:29元 / 折扣价: 25  纸质版:暂无

272 条记录,每页 10 条,当前第 28 / 28 页 第一页 | 上一页 | 下一页 | 最末页  |     转到第   页  
  • 波浪
  • 波浪
  • 波浪
  • 波浪