本部分涉及注入公用供电系统的谐波电流限值:
a) 设备的要求和发射限值。
b) 型式试验和模拟的方法。
本标准适用于GB 9254—2008中定义的信息技术设备(ITE)。
本标准的目的是对ITE固有抗扰度提出合适的要求,以使设备在其预定的环境中正常工作。本标准规定了设备对连续的和瞬变的传导和辐射骚扰,包括静电放电(ESD)的抗扰度试验要求。
本标准规定了ITE在0 Hz~400 GHz频率范围内的测量方法和限值。
对特殊的环境条件,可能要求采取减缓措施。
出于测试和性能评估的考虑,一些试验在规定的频段或选频情况下进行。在这些频率点上满足抗扰度要求的设备被认为在0 Hz~400 GHz全频段范围内也满足要求。
在每个被考虑的端口规定试验要求。
GB/T 22148的本部分与CISPR 15:2005的要求相对应,在使用基准灯具的基础上,详细描述了Ⅰ类和/或Ⅱ类荧光灯具用电子控制装置的无线电骚扰特性的独立试验方法。
本部分覆盖了使用G5或G13灯头的双端荧光灯和2GX7、2G8、2G10、2G11、2GX13、G23、GX23、G24q、GX24q、GR8和GR10q灯头的单端荧光灯用电子控制装置。
GB/T 22148的本部分与CISPR 15:2005的要求相对应,在使用基准灯具的基础上,详细描述了Ⅰ类和/或Ⅱ类放电灯(荧光灯除外)灯具用内装式电子控制装置的无线电骚扰特性的独立试验方法。
本部分适用于输出功率(灯功率)不大于150 W的电子控制装置。
本部分不包含独立式电子灯具控制装置,它们属于CISPR 15:2005适用的范围。
GB/T 17626的本部分给出了利用各种TEM波导进行电子和电气设备发射和抗扰度试验的方法。TEM波导有开放式(例如,带状线和电磁脉冲(EMP)模拟器)和封闭式(例如,TEM室),还可以进一步分为单端口、双端口和多端口波导。TEM波导的适用频率范围取决于具体的试验需求和TEM波导的具体类型。
GB/T 17626的本部分考虑在混波室中的电气和/或电子设备的抗扰度试验、有意或无意辐射发射试验和屏蔽效能试验。本部分建立了实施这些试验所需的试验程序。本部分仅考虑辐射现象。
本部分的目的是建立一个使用混波室评估电气和/或电子设备在射频电磁场中的性能和确定电气电子设备的辐射发射等级的通用规范。
本标准规定了10 kHz~3 GHz频率范围内高压试验室屏蔽效能的要求和测量方法。频率也可扩展到10 GHz。
本标准适用于高压试验室电磁屏蔽效能的评价和测量。
本标准规定了9 kHz~400 GHz频段内工业、科学和医疗射频设备骚扰特性的限值和测量方法。
本标准适用于工作频率在0 Hz~400 GHz范围内的工业、科学和医疗电气设备(以下简称工科医设备)以及设计用于产生和/或使用局部射频能量的家用及类似器具。
本标准覆盖9 kHz~400 GHz频段内射频骚扰的发射要求。但只需按第6章中规定限值的频段进行测量。
对于在国际电信联盟(ITU)中定义的工科医射频应用(见定义3.1),本标准覆盖9 kHz~18 GHz频段内的射频骚扰发射要求。
本标准亦适用于国际电信联盟(ITU)无线电规则定义的工科医频段内的工科医射频照明器具和紫外线照射设备。
本标准不适用于在其他CISPR产品类或其他产品发射标准中已经覆盖的设备。