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本规范的目的是给出低压集成电路不同分组的接口规范,包括电源电压值、容差和最坏情况下的输入、输出电压极限值。 同时给出每类标称电源电压的两种接口规范:正常范围和宽范围。正常范围是依据工业标准制定的,典型容差大约是10%。宽范围是扩展到一个较宽的范围,可以使电池继续工作的实际值。
GB/T 17574.9-2006
半导体器件 集成电路 第2-9部分:数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS只读存储器 空白详细规范
现行
发布日期 :
2006-12-05
实施日期 :
2007-05-01
本标准规定了下列集成电路(IC)分类体系树(见图1)中有关半定制集成电路子类的标准。 注:这个体系树是不封闭的,可以在需要时拓展。
本分规范适用于已封装的半导体集成电路,包括多片集成电路,但不包括混合电路。
GB/T 17574.10-2003
半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路集成电路动态 读/写存储器空白详细规范
现行
发布日期 :
2003-11-24
实施日期 :
2004-08-01
GB/T 18500.1-2001
半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第一篇:线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范
现行
发布日期 :
2001-11-05
实施日期 :
2002-06-01
GB/T 18500.2-2001
半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第二篇:线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范
现行
发布日期 :
2001-11-05
实施日期 :
2002-06-01
GB/T 5965-2000
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列) 空白详细规范
现行
发布日期 :
2000-01-03
实施日期 :
2000-07-01