本文件描述了打印显示薄膜均匀性的测试方法,主要包括子像素均匀性、相邻子像素均匀性、短程均匀性测试方法。
本文件适用于使用探针式表面轮廓仪(以下称台阶仪)和白光干涉仪对厚度范围为5 nm~105 nm的打印显示薄膜均匀性的测试。
本文件界定了微电子学微光刻技术有关的微电子光刻技术,先进光刻技术,微光刻图形化和图形数据处理技术,微光刻感光材料、铬板与基板材料,光掩模技术,光刻工艺(曝光、刻蚀与微纳米加工)技术,电子束掩模制造与直写技术,光刻及掩模质量参数测量和评定,掩模制造设备和微光刻设备等术语和定义。
本文件适用于微电子学微光刻技术领域的教学、科研、生产、应用、贸易和技术交流。
本文件界定了平板显示器基板玻璃的术语和定义,规定了要求、检验规则、标志、合格证、产品说明书、包装、运输和贮存,描述了相应的试验方法。本文件适用于平板显示器基板玻璃的设计、生产、研发、测试和使用。
本文件描述了以触针式表面粗糙度测量仪测试平板显示器基板玻璃表面粗糙度和波纹度的方法。
本文件适用于平板显示器用基板玻璃。
本文件描述了平板显示器基板玻璃的外观与几何尺寸的测试方法。
本文件适用于平板显示器用基板玻璃。
本文件描述了平板显示器基板玻璃的透过率、折射率、体积电阻率、介电常数、介质损耗因数的测试方法。
本文件适用于平板显示器用基板玻璃的测试。
本文件规定了电子封装用环氧粉末包封料(以下简称“包封料”)的产品分类、要求、检验规则和包装、标志、贮存、运输要求,描述了相应试验方法。
本文件适用于陶瓷电容器、压敏电阻器、薄膜电容器、电阻网络、热敏电阻器等电子元器件流化床等包封用环氧粉末包封料。
本文件界定了光伏组件封装用共挤胶膜(以下简称“共挤胶膜”)的术语和定义,规定了要求、检验规则、包装、标志、运输和贮存,描述了相应的试验方法。
本文件适用于晶体硅光伏组件封装用共挤胶膜,薄膜组件封装用胶膜参照使用。
本文件描述了平板显示器用基板玻璃退火点、应变点、软化点、平均线热膨胀系数、导热系数和再热线收缩率的测量方法。
本文件适用于所有类型的平板显示器用基板玻璃热学性能的测试。