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【国家标准】 集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分:射频功率直接注入法

本网站 发布时间:
  • GB/T 42968.4-2024
  • 现行
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适用范围:

本文件规定了在传导射频(RF)骚扰存在的情况下集成电路(IC)抗扰度的测量方法,例如,由辐射RF骚扰引起的传导RF骚扰。本方法确保抗扰度测量的高度可重复性和相关性。
本文件为设备中的半导体器件在无用RF电磁波环境下工作时的评估建立公共基础。

基本信息

  • 标准号:

    GB/T 42968.4-2024

  • 标准名称:

    集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分:射频功率直接注入法

  • 英文名称:

    Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 4:Direct RF power injection method
  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

  • 实施日期:

    2024-12-31
  • 出版语种:

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号:

    31.200
  • 中标分类号:

    L56

关联标准

  • 替代以下标准:

  • 被以下标准替代:

  • 引用标准:

  • 采用标准:

    《集成电路 电磁抗扰度测量150 kHz~1 GHz 第4部分:射频功率直接注入法》 IDT 等同采用

出版信息

  • 页数:

    24 页
  • 字数:

    34 千字
  • 开本:

    大16 开

其他信息

  • 起草人:

  • 起草单位:

  • 归口单位:

    全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC 599)
  • 提出部门:

    中华人民共和国工业和信息化部
  • 发布部门:

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
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