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【国家标准】 纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法
本网站 发布时间:
2024-12-02
- GB/T 44075-2024
- 现行
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适用范围:
本文件描述了使用拉曼光谱成像分析法测量表面增强拉曼固相基片均匀性的方法,包括方法概要、仪器设备、试剂和材料、测试过程及测试报告等。
本文件适用于SERS固相基片均匀性测量。
本文件适用于SERS固相基片均匀性测量。
标准号:
GB/T 44075-2024
标准名称:
纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法
英文名称:
Nanotechnology—Determination of the uniformity of SERS solid substrate—Raman mapping analysis标准状态:
现行-
发布日期:
2024-05-28 -
实施日期:
2024-12-01 出版语种:
中文简体
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