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【国家标准】 集成电路 电磁发射测量 第4部分:传导发射测量1 Ω/150 Ω直接耦合法
本网站 发布时间:
- GB/T 44937.4-2024
- 现行
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适用范围:
本文件规定了直接用1 Ω阻性探头测量射频(RF)电流和150 Ω耦合网络测量RF电压以测量集成电路(IC)传导电磁发射(EME)的方法。这些方法可确保EME测量具有高度的可重复性和相关性。
标准号:
GB/T 44937.4-2024
标准名称:
集成电路 电磁发射测量 第4部分:传导发射测量1 Ω/150 Ω直接耦合法
英文名称:
Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 4:Measurement of conducted emissions—1 Ω/150 Ω direct coupling method标准状态:
现行-
发布日期:
-
实施日期:
2024-12-31 出版语种:
中文简体
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